X荧光光谱仪设备采购项目

1.主机要求

1.1主机构成：仪器由X光管、X射线发生器、样品室、探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件、标准样品组成。

1.2测量范围：从11号元素Na到92号元素U。

1.3测量对象：固体、液体、粉末

1.4品牌 岛津 ，型号 EDX-LE Plus

2.计数器类型

2.1非液氮冷却的半导体固体SDD计数器

2.2分辨率：≤150 eV（Mn的Kα线半高宽）

2.3制冷方式：电子制冷

3 X射线发生单元

3.1 X射线管

3.1.1靶材与功率：，Rh或Mo靶，功率≥50W

3.1.2冷却方式：电子制冷

3.1.3光管控制：X-光发射仅在分析样品时自动开启和关闭

3.2 X射线电源单元

3.2.1电压：5 - 50kV

3.2.2电流：1 - 1000μA

3.2.3输出稳定性：±0.01%

3.2.4保护电路：过电压、过电流、过负荷保护，防止X射线泄露保护

3.3 X射线滤光片

5种（含OPEN为6种），自动交换

3.4 准直器

至少四种类型，且最小直径小于等于1mm。

3.5 X射线警示装置

当X射线激发时，仪器外观会有自动显示预警提示；

当X射线关闭时，仪器恢复正常

4 计数部分

4.1 峰形调整 ：数字处理

4.2 通道数：4096ch

4.4 计数率：≥1,000,000cps

5 控制部分

5.1 控制对象：X射线发生部分、计数部、样品装置、样品室盖

6 样品室与测定室单元

6.1 样品室

6.1.1盖子：手动开关式（带安全系统），测量开始或结束后，样品室盖门栓自动工作。

6.1.2 最大样品尺寸：400(W) x320(D) x 155(H)mm

6.1.3样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足我国X射线的泄露控制标准。

6.1.4 测定氛围：大气

6.1.5 试样观察：CMOS图像装置

7 软件

7.1 定性分析：测定、解析软件

7.2 定量分析：标准工作曲线法、共存元素校正、FP法（基本参数法）、薄膜FP法、BG-FP法（厚度校正）

7.3 匹配软件：自动校正功能（能量校正、强度校正、半高宽校正）

8 计算机控制系统，易耗品、备件、标准样件

8.1 配备两年的备件与易耗品。

8.2 计算机：主流品牌机，显示器：4G内存，500G以上硬盘，19寸及以上液晶；操作系统：Win 10中文版；激光打印机。

8.3 1060铝管标准样管和相应的标准成分曲线

9 安全：仪器四周一米内，X射线辐射量少于1μsv/h。

10 环境条件：

电源电压 220V±10% 50Hz

温度 10-30℃ 相对湿度40-70%

11 仪器配置：主机一台；电脑一台；打印机一台；